2024年6月26日至28日，深圳國際半導體展在深圳國際會展中心隆重舉行，作為行業領先的測量技術提供商，天行測量攜多款創新產品亮相6號館6H28展位，吸引了眾多業內人士的關注和好評。
此次展會上，天行測量展示了多款最新測量儀器，包括F500、F480-Z、FL4030、FL4030-D及LVS5040。其中，F500和F480-Z憑借其一鍵式快速測量技術和高精度的測量能力，成為展會的亮點。FL4030和FL4030-D以其高效的平面度、高度、輪廓測量功能，贏得了眾多手機制造商和半導體企業的青睞。LVS5040則以其多功能測量和高效自動化操作，展示了天行測量在精密測量領域的領先地位。
展會期間，天行測量的展臺吸引了大量參觀者和專業觀眾，大家對公司的產品表現出濃厚的興趣。天行測量的技術團隊現場進行了詳細的演示和講解，與眾多客戶進行了深入的交流，現場氣氛熱烈。
通過此次參展，天行測量不僅展示了最新的測量技術和產品，還與多家企業達成了合作意向，進一步鞏固了在半導體測量領域的領先地位。未來，天行測量將繼續致力于技術創新和產品優化，為客戶提供更加優質的測量解決方案。
深圳國際半導體展的圓滿成功，標志著天行測量在行業內的影響力和競爭力進一步提升。我們期待著天行測量在未來的更多精彩表現。
